十種常見的 Device 雜訊分析錯誤

Device 雜訊對奈米尺寸的 CMOS 處理來說至關重要，它基本上限制了大多數 45 nm 及以下電路的性能。只要有正確的工具，device 雜訊分析 (DNA) 這種方法就能非常直接地得到誤差在 1 dB 至 2 dB 之間的測量結果。然而，幾種常見的錯誤會造成 device 雜訊影響的嚴重超估或低估，從而導致大量的設計過度或設計不足。