Tessent 串流掃描網路 - 毫不妥協的由下而上式 DFT 方法

這份白皮書提供 Tessent 串流掃描網路 (SSN) 的簡要說明，此項技術是為將核心層級與晶片層級 DFT 需求分離所設計的。使用 SSN 技術，DFT 工程師將能真正建置高效率的由下而上式流程，無須在實作工作量與製造測試成本間進行取捨。

毫不妥協的由下而上式 DFT 方法

這份白皮書所介紹的 SSN 技術解決了複雜 SoC 中的許多掃描分配難題。透過分離晶片層級和核心層級的 DFT，這項技術只需要幾個晶片層級腳位，就可以同時測試任意數量的核心，並具有多項可減少測試時間及測試資料量的功能。SSN 可以在接近恆定的時間測試任意數量的相同核心實例，在存在向量數量和／或掃描鏈長度不匹配的核心的情況下，最大限度地減少填充，還能讓晶片之間以及內部的資料串流更快速。SSN 簡化了設計的規劃和執行，特別適合在區塊式設計中實作。

複雜 SoC 中的難題

規劃與佈局

為了並行使用傳統的階層式腳位多工器掃描測試方法測試核心群組，掃描通道的輸入和輸出會透過一組多工器直接與晶片層級腳位相連接。特定核心能否一起測試取決於多工器網路，因此在設計流程的早期就需要做出決定。複雜的多工器網路能提供更大的彈性，但也可能導致佈線壅塞，當測試的核心越來越多以及測試的晶片層級腳位數達到穩定，便需要建立更多核心和存取組態群組。這將會影響到 DFT 實作工作、矽面積、向量重定複雜性和測試時間。

有效處理相同核心

將相同核心實例的測試向量數量最佳化的一種方法，是將相同的向量傳播至相同頂層腳位的掃描輸入。為了確保測試覆蓋率與可診斷性，輸出常常是獨立觀察的。由於每個核心實例至少需要一個輸出通道，這便限制了能同時被測試的相同核心的數量。另一個挑戰是擷取時脈通常同時應用於所有核心，這意味著掃描輸入腳位和由其所驅動的所有相同核心實例之間的管線階段數量必須相等。這在區塊式設計中比較困難，因為核心以外不會有任何佈線或邏輯。

區塊式相接設計

區塊式佈局進一步增加了 DFT 架構的複雜度和限制，核心之間緊鄰的設計讓兩個核心彼此連通，也排除了頂層佈線的可能性。核心之間的任何連通都需要經過兩者之間的所有核心，頂層的邏輯需要裝進核心中，成為核心設計的一部分。