Embedded Analytics 一種平台方法

無論是系統單晶片 (SoC)，還是其實現的嵌入式系統，複雜度都在迅速增加，對半導體業構成了挑戰。今日的電子器件，不只越來越普及，對任務也扮演關鍵的角色。此複雜度的性質有許多面向，也產生了一些成本與商機，本文將予以概述。

我們展示出，要成功應付這項挑戰，關鍵是在兩個階段取得系統層級能見度，一是在半導體的開發週期中，一是在嵌入式系統完成現場部署之後。我們介紹了一種平台方法，稱為 Tessent™ Embedded Analytics，這個解決方案整合了智慧型晶載監測、通訊軟硬體、API 與應用軟體。該平台為一個問題領域提供了解決方案，該領域的範圍從 SoC 除錯擴展到產品效能的最佳化，貫穿從概念發想直到生命週期結束的完整生命週期。