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白皮書

Embedded Analytics 一種平台方法

無論是系統單晶片 (SoC),還是其實現的嵌入式系統,複雜度都在迅速增加,對半導體業構成了挑戰。今日的電子器件,不只越來越普及,對任務也扮演關鍵的角色。此複雜度的性質有許多面向,也產生了一些成本與商機,本文將予以概述。

我們展示出,要成功應付這項挑戰,關鍵是在兩個階段取得系統層級能見度,一是在半導體的開發週期中,一是在嵌入式系統完成現場部署之後。我們介紹了一種平台方法,稱為 Tessent™ Embedded Analytics,這個解決方案整合了智慧型晶載監測、通訊軟硬體、API 與應用軟體。該平台為一個問題領域提供了解決方案,該領域的範圍從 SoC 除錯擴展到產品效能的最佳化,貫穿從概念發想直到生命週期結束的完整生命週期。

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