說明資料
Tessent LogicBIST
適用於攸關安全之應用的矽測試
設計增強以及連結應用可在整個 IC 生命週期內偵測、降低和去除風險，幫助客戶解決當前最複雜 SoC 的除錯、測試、良率、安全、資安和最佳化需求。
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