Streaming Scan Network：无折衷的分组测试

Tessent™ Streaming Scan Network (SSN) 是一种分组扫描测试向量系统。利用它，只需很少的芯片级管脚就能同时测试任意数量的核心，同时缩短测试时间并减少测试数据量。SSN 为 DFT 工程师提供了一种真正的 SoC DFT 解决方案，因而无需在实现工作与制造测试成本之间做出妥协。

DFT 在复杂 SoC 中的挑战

由于设计尺寸、设计复杂性和测试调整的急剧增加，将扫描测试数据从芯片级引脚移动到内核级扫描通道的传统方法面临着力。在将扫描测试数据传送到内核的传统方法中，每个内核都需要与芯片级引脚的专用连接，这并没有太大的灵活性，因为内核和芯片级引脚之间的相互关系在设计过程中就已设置完毕。在自下而上的测试流程中，DFT 工程师通常为每个内核分配固定数量的扫描通道，通常每个内核的数量相同。这是最简单的方法，但最终可能会浪费带宽，因为组合在一起进行测试的不同内核可能具有不同的扫描链长度和向量计数。这种方法还存在其他问题，包括可用于扫描测试的 IO 有限、核心级通道有限以及潜在的路由拥塞。

引脚多路复用扫描方法也不允许根据测试数据随时间的变化进行调整。例如，随着良率的提高，某些内核可能不再需要某些向量类型。或者，晶圆测试、封装测试和系统内测试可能需要不同的分配。

分组扫描测试方法的担当

像 Tessent Streaming Scan Network 这样的分组扫描测试系统提供了一种更有效且可调整的方法。其原理是通过连接到设计中所有内核或模块的统一网络提供扫描测试数据。移入和移出芯片的数据看起来不像传统的扫描测试数据，而是以分组的形式组织起来，网络知道如何在每个内核上转换为看起来更传统的扫描数据。SSN 方法基于将内核级测试需求与芯片级测试资源分离的原理，具体途径就是使用高速同步总线将分组扫描测试数据传送到内核。