Streaming Scan Network：无折衷的自下而上式 DFT 方法

利用 Tessent™ Streaming Scan Network (SSN) 可以同时测试任意数量具有较少芯片级管脚的核心，并缩短测试时间，减少测试数据量。有了 SSN，DFT 工程师第一次能够使用真实、有效的自下而上式流程来实现 DFT，而且无需在实现工作量与制造测试成本之间做出任何折衷。

无折衷的自下而上式 DFT 方法

SSN 技术解决了复杂 SOC 中面临的许多扫描分发挑战。通过分离芯片级和核心级 DFT，它能实现同
时测试任意数量具有较少芯片级管脚的核心，而且提供了多种功能来缩短测试时间，减少测试数据量。它可以在近乎恒定的时间内测试任意数量的相同核心实例，最大限度减少存在多个核心时填补的不匹配的扫描向量计数和／或扫描链长度，而且能够实现较快的流式数据传输，将数据传入／传出芯片和通过整个芯片。它还简化了设计规划和实现，尤其适合基于重复单元的设计。

复杂 SOC 中的挑战

规划和版图

为了与传统的层次化管脚-多路复用扫描测试方法并行测试一组核心，扫描通道输入和输出通过一组多路复用器直接连接到芯片级管脚。哪些核心可以一起测试是以多路复用网络为基础，因此必须在设计流程的早期确定。通过更复杂的多路复用网络可以实现更大的灵活性，但这可能导致布线拥塞。当有更多的核心和稳定数量的芯片级管脚可用于测试时，必须创建额外的核心组和访问配置。这会影响 DFT 实现工作量、硅片面积、向量重定向复杂度和测试时间。

有效处理相同的核心

要优化相同核心实例的测试向量数，其中一种方法是将相同的测试向量广播至来自相同顶层管脚的扫描输入。通常以独立方式观察输出，以保证测试覆盖率并确保可诊断性。由于每个核心实例至少需要一个输出通道，因此这可能会限制能够同时测试的相同核心数量。另一项挑战是，捕获时钟通常并行应用于所有核心。这意味着，扫描输入管脚与它所驱动的所有相同核心实例必须具有相等的流水线级数。当存在平铺时，核心外部可能没有任何布线或逻辑，因此这会构成一定的挑战。

使用对接的基于重复单元的设计

基于重复单元的版图进一步增加了 DFT 架构的复杂性和约束。核心设计为彼此对接，从而使连接从一个核心流至下一个核心，几乎消除了顶层布线。核心之间的任意连接都必须流经介于它们之间的核心。位于顶层的逻辑必须推送到核心并设计为核心的一部分。