在应用 PMHF、SPFM 和 LFM 等安全指标确定 IC 是否安全,不会受随机硬件故障的影响时,工程师必须同时分析瞬态故障和永久故障。本文重点介绍数字电路永久故障和瞬态故障之间的根本区别,以及这种区别在 ISO 26262:2018 功能安全标准背景下的重要性。
您是否正在尝试确定您的设计是否安全,不会受随机硬件故障的影响,并且想要弄清一些安全指标,如单点故障指标 (SPFM)、潜在故障指标 (LFM) 和硬件失效概率指标 (PMHF)?如果是,您无疑需要同时权衡瞬态故障和永久故障。现实情况是,它们都需要被分析,在此基础上,我们发现两者之间存在相当多的差异。本文的目的是重点介绍数字电路永久故障和瞬态故障之间的根本区别,以及这种区别在 ISO 26262:2018 功能安全标准背景下的重要意义。
集成电路中故障的来源多种多样:电磁干扰 (EMI)、辐射、电迁移、冲击、振动,等等。在某些情况下,了解具体的故障源非常重要,以方便采取针对性的措施。这时,合理的做法通常是将它们抽象为位翻转(瞬态)和固定故障(永久)。重要的是,这种抽象是 ISO 26262 标准所允许的。