打包扫描测试

基于总线的打包扫描数据将测试传送与核心级 DFT 要求解耦，因此可以完全不受芯片 IO 限制来定义核心级压缩配置。针对并行测试核心的分组是通过编程方式，而不是通过硬接线来选择的。这一概念大幅减少了 DFT 规划和实现工作。

西门子用于扫描测试向量打包传送的解决方案 Tessent™ Streaming Scan Network (SSN)，是当今复杂 SoC DFT 领域的一个重大进步。利用它，只需很少的芯片级管脚就能同时测试任意数量的核心，同时缩短测试时间并减少测试数据量。SSN 为 DFT 工程师提供了一种真正的 SoC DFT 解决方案，因而无需在实现工作与制造测试成本之间做出妥协。利用 SSN 还能实现用于测试 3D IC 的 IEEE 1838 灵活并行端口。本文介绍了 SSN 的基本组件，并提供关于其使用的简短案例研究。

Streaming Scan Network 解决了复杂 SoC 中面临的扫描分发挑战

当前，DFT 工程师面临传统管脚多路复用扫描测试方法带来的诸多挑战，包括：

• 规划和版图
• 有效处理相同的核心
• 使用对接的基于平铺的设计

Tessent Streaming Scan Network (SSN) 通过解耦测试传送和核心级 DFT 要求来应对这些挑战。使用 SSN 时，将基于能否为核心本身产生最紧凑的测试向量集，来确定该核心的压缩和扫描通道数量。

SSN 实现流程以用于层次化设计的 Tessent Shell 流程为基础。SSN 得到了 Tessent TestKompress™ 和 Tessent Diagnosis 的完全支持，而且可以与所有其他 Tessent DFT 技术（如 Tessent MemoryBist 和 Tessent LogicBist）共存。