白皮书
测量 IC 中模拟电路的 ISO 26262 指标
ISO 26262 规定了各项电路指标和最小值，即设计要求。由于该标准的焦点是最大限度降低发生不安全故障的可能性，因此必须估算发生每种故障／缺陷的可能性，以便能够计算这些指标。
本文首先讨论这些指标及其相互关系。然后讨论如何使用 Tessent™ DefectSim 来测量各项指标。
ISO 26262 规定了各项电路指标和最小值，即设计要求。由于该标准的焦点是最大限度降低发生不安全故障的可能性，因此必须估算发生每种故障／缺陷的可能性，以便能够计算这些指标。
本文首先讨论这些指标及其相互关系。然后讨论如何使用 Tessent™ DefectSim 来测量各项指标。