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白皮书

应对缩放挑战以实现硅片成功

为什么新的测试和监控工具在当今不断变化的半导体格局中至关重要

半导体公司面临着与技术节点缩小、设计规模扩大和系统规模扩宽相关的严峻挑战。这些挑战对设计开发、制造和功能操作有着广泛的影响,而所有这些都会影响到利润。本文讨论了 “芯片生命周期解决方案” 方法的挑战和特定影响,该方法包括 DFT、运营和嵌入式分析,支持公司以简化且有条理、可靠且可预测的方式应对与上述挑战相关的复杂性。

缩放挑战是商业挑战

半导体公司必须比以往任何时候都要更快地行动,不断努力降低开发和生产成本,响应不断变化的客户需求,创造新的商业模式并在竞争中脱颖而出。在这个充满挑战的商业环境中,复杂性是一个关键挑战。在半导体设计领域,复杂性是技术节点缩小、设计规模扩大和系统规模扩宽(统称 “缩放” )的结果。领先的半导体公司不断完善和优化芯片设计与制造的各个方面,以应对缩放挑战。 近年来,西门子已转型为一家以数字化转型为导向的公司。一个数字孪生来连接从设计到制造再到生命周期内的数字主线,包括Tessent 芯片生命周期解决方案 (SLS),后者包括一整套用于测试、运营/良率分析和生命周期内监控的软件、知识产权 (IP) 和服务。 在器件的整个生命周期中采用创新的 IC 测试和监控解决方案,有助于您驯服并利用复杂性作为竞争优势。每种 Tessent 解决方案都提供巨大的规模和成本效率,不仅节省时间和成本,而且帮助公司驾驭当今不断变化的半导体格局的复杂性,推动其取得市场成功。

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