对当今的大规模先进工艺设计执行批量扫描诊断时,半导体厂商对周转时间和计算资源提出了严格的要求。本文介绍了一种新技术,可在执行日益严苛的扫描诊断时最大限度提高诊断吞吐量。利用西门子数字化工业软件 Tessent™ Diagnosis™ 中的动态分割技术,在仅使用传统方案约 20% 内存的情况下,就能够实现扫描诊断时间缩短 50%。这种新的动态分割技术可以更快获得更大数量的扫描诊断结果,从而将失效诊断的总体吞吐量提高 10 倍。