基于关键区域的测试向量优化

DFT 工程师面临的挑战之一是如何为 ATPG 设置目标指标以及如何选择最佳向量集。传统的覆盖率目标以检测到的故障数量为基础，没有考虑一个故障相较于另一个故障的发生可能性。Tessent 开发了总关键区域 ATPG 技术，可根据向量检测到缺陷的可能性对其进行分类和排序。用户可以在一次运行中创建适用于多个故障模型的向量集，从而显著减小总向量大小。

近年来，业内引入了具有独特的生产缺陷检测功能的新型扫描测试方法。幸运的是，有一种度量向量值的方法可以基于物理缺陷发生的可能性对检测缺陷的向量进行一致、对等的评估。该方法使用与向量检测到的故障相关的总关键区域 (TCA)。