broszura informacyjna

Tessent FastScan

Automatic test pattern generation

IC design schematic used for circuit test debug and analysis with Tessent FastScan

Tessent FastScan is the gold standard in automatic test pattern generation (ATPG), with support for a wide range of fault models, comprehensive design rule checks, extensive clocking support, and innovative algorithms for performance-oriented pattern compaction. Its ability to be applied to any type of design makes it the most versatile ATPG solution available. Tessent FastScan is part of the Tessent Shell platform, which offers extensive capabilities for automation, customization, testability analysis, and debug.

Tessent FastScan supports all traditional fault models used for uncovering both static and dynamically activated defects. Timing-aware test uses SDF to ensure that the long paths in the design are tested.

Udostępnij

Powiązane treści

Strategie łatwiejszego wprowadzania innowacji i najlepsze narzędzia do zarządzania wymaganiami produktowymi
Webinar

Strategie łatwiejszego wprowadzania innowacji i najlepsze narzędzia do zarządzania wymaganiami produktowymi

Przekonaj się o kluczowym znaczeniu powiązanych wymagań, które pozw...

Szybko rozpocznij pracę z systemem Teamcenter X SaaS PLM
Video

Szybko rozpocznij pracę z systemem Teamcenter X SaaS PLM

Poznaj rozwiązanie Teamcenter X do zarządzania cyklem życia produktu w modelu „oprogramowanie jako usługa” (SaaS PLM), które jest proste w obsłudze i łatwo dostępne.

Co to jest rozwiązanie PLM i dlaczego warto wybrać system w chmurze?
Infographic

Co to jest rozwiązanie PLM i dlaczego warto wybrać system w chmurze?

Czym jest PLM? Zobacz, jak sprawniej wprowadzać innowacyjne produkty na rynek dzięki szybkiemu i ekonomicznemu rozwiązaniu Teamcenter X w chmurze. Dowiedz się więcej.