스트리밍 스캔 네트워크: 타협 없는 패킷화 테스트

Tessent™ SSN(Streaming Scan Network)은 스캔 테스트 패턴을 패킷화된 방식으로 전송하는 시스템입니다. 칩 레벨 핀 수가 적은 경우에도 동시에 여러 개의 코어를 테스트할 수 있으며, 테스트 시간과 테스트 데이터 볼륨을 줄입니다. DFT 엔지니어는 SSN을 통해 구현 노력과 제조 테스트 비용 간의 타협 없이 진정한 SoC DFT 솔루션을 갖게 됩니다.

복잡한 SoC를 위한 DFT의 과제

칩 레벨 핀에서 코어 레벨 스캔 채널로 스캔 테스트 데이터를 전송하는 기존의 접근 방식은 설계 크기, 설계 복잡성, 테스트 적응의 급격한 증가로 인해 어려움을 겪고 있습니다. 스캔 테스트 데이터를 코어에 전송하는 기존 접근 방식에서는 각 코어에 칩 레벨 핀에 대한 전용 연결 장치가 필요하며, 이는 코어와 칩 레벨 핀 간의 종속성이 설계 단계에서 한 번 설정되면 유연성이 크게 제한되었습니다. 상향식 흐름에서 DFT 엔지니어는 일반적으로 각 코어에 대해 고정된 수의 스캔 채널을 할당하며, 일반적으로 각 코어에 대해 동일한 수를 할당합니다. 이는 가장 손쉬운 방법이지만, 테스트하기 위해 함께 그룹화된 여러 코어의 스캔 체인 길이 및 패턴 수는 서로 다를 수 있으므로 대역폭을 낭비할 수 있습니다. 이 접근 방식의 다른 문제로는 스캔 테스트에 사용할 수 있는 IO 및 코어 레벨 채널이 제한되고 라우팅 정체가 발생할 수 있습니다.

또한 핀 다중화(pin-muxed) 스캔 접근 방식은 시간 경과에 따른 테스트 데이터의 변경 사항에 맞게 조정할 수 없습니다. 예를 들어, 수율이 증가함에 따라 일부 코어에서는 일부 패턴 유형이 더 이상 필요하지 않을 수 있습니다. 또는 웨이퍼 테스트, 패키지 테스트, 시스템 내 테스트에 대해 다른 할당이 필요할 수 있습니다.

패킷화된 스캔 테스트 전송의 가능성

Tessent 스트리밍 스캔 네트워크와 같은 패킷화된 스캔 테스트 전송은 보다 효과적이고 조정 가능한 접근 방식을 제공합니다. 핵심 개념은 설계의 모든 코어 또는 블록에 연결된 균일한 네트워크를 통해 스캔 테스트 데이터를 전송하는 것입니다. 칩 안팎으로 이동되는 데이터는 기존 스캔 테스트 데이터처럼 보이지 않지만, 이 데이터는 패킷을 통해 네트워크가 각 코어에서 보다 일반적인 스캔 데이터로 변환하는 방법을 이해하는 방식으로 구성됩니다. SSN 접근 방식은 고속 동기식 버스를 사용하여 패킷화된 스캔 테스트 데이터를 코어에 전송함으로써 코어 레벨 테스트 요구사항을 칩 레벨 테스트 리소스에서 분리하는 원칙을 기반으로 합니다.