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IC 아날로그 회로의 ISO 26262 지표 계측
ISO 26262는 설계 요구사항에 속하는 회로 지표와 최소값을 구체적으로 지정해 놓았습니다. 이 표준은 위험한 오류가 발생할 가능성을 최소한으로 줄이는 데 중점을 두고 있으므로 이러한 지표를 계산하려면 각각의 결함/고장이 발생할 가능성을 반드시 추산해야 합니다.
이 글에서는 우선 이러한 지표가 무엇이고 서로 어떤 관계인지 설명합니다. 그런 다음 Tessent™ DefectSim을 사용해 각각의 지표를 계측하는 방법을 논합니다.