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백서

사인오프와 ECO 과정에서 메타데이터 재사용을 통한 생산성 증대

Calibre PERC 신뢰성 플랫폼은 설계자가 초기 검증 플로우를 진행하면서 설계 메타데이터를 한 번만 생성하게 하는 혁신적인 접근법을 활용합니다. 이렇게 스마트한 1회 메타데이터 생성 방식을 활용하면 복잡한 컨텍스트 인식 검사(예: VA-DRC 및 P2P/CD 검증 등)를 비롯한 반복적인 신뢰성 검사 사이클만이 아니라 DFM 최적화, 장애 분석(FA) 및 실리콘 전/후 분석과 관련해서도 런타임을 대폭 단축하고 리소스 활용률을 개선하는 부분에도 도움이 됩니다.

1회 메타데이터 생성 방식을 활용하면 런타임을 대폭 단축하고 리소스 활용률을 개선할 수 있습니다.

설계를 최적화하는 목적이 기능 강화이든 성능 개선이든, 사인오프 검증 프로세스를 거치는 과정에서 대개 물리적 검증 플로우를 모두 다시 실행해야 하며 회로 검증과 신뢰성 검증 플로우도 다시 진행해야 합니다. 각각의 플로우에서 메타데이터를 되풀이하여 생성하는데, 이는 입력 설계 데이터가 변경되지 않은 경우에도 생성하게 됩니다. VLSI 설계 요구 사항이 늘어나고 프로세스가 복잡해지면서 이러한 검증 플로우 또한 점점 더 복잡해지고 시간도 더 오래 걸리게 되었습니다.

Calibre PERC 신뢰성 플랫폼은 설계자가 초기 검증 플로우를 진행하면서 설계 메타데이터를 한 번만 생성하게 하는 혁신적인 접근법을 활용합니다. 검사를 다시 실행해야 할 경우, 이 메타데이터를 실용적으로 다시 사용해 데이터를 건드리지 않은 단계는 건너뜁니다. Calibre PERC 신뢰성 플랫폼은 이전 실행 회차 때 생성한 설계 메타데이터를 보존, 상속하고 재사용함으로써 재검사를 실행할 때 복잡한 지오메트리 검사 TAT를 단축해 줍니다. 런타임과 리소스 활용량이 둘 다 크게 줄어들지만, 해당 플로우를 활용한 결과의 정확도가 달라지지는 않습니다. 디버깅, DFM 최적화와 FA 또한 메타데이터를 재사용하면 장점이 있습니다. 전반적인 TAT 단축에 도움이 되는 데다가 설계 품질을 보장하고 최적화할 수도 있습니다.

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