テスト容易化設計 (DFT)

このコースでは、高品質、低コストの製造テストの実行や自動化などを含めた、最も重要なデジタル回路テストの手法を紹介します。故障モデリング、テスト生成、故障シミュレーションに加えて、テスト容易化設計 (DFT)、ランダムロジック / メモリアレイのビルトイン・セルフテスト (BIST) についても解説します。さらに、テストデータ量、テスト時間、歩留まり学習の削減を目的として開発された組み込みテスト手法に関する最新トピックもお伝えします。