Streaming Scan Network: Kompromissloser Pakettest

Tessent™ Streaming Scan Network (SSN) ist ein System zur paketbasierten Übertragung von Scan-Testmustern. Es ermöglicht simultanes Testen beliebig vieler Kerne mit wenigen Chip-Pins und verkürzt Testdauer sowie Testdatenmenge. Mit SSN haben DFT-Konstrukteure eine echte SoC-DFT-Lösung, die weder beim Implementierungsaufwand noch bei den Fertigungstestkosten Kompromisse eingeht.

Herausforderungen bei DFT für komplexe SoC

Der traditionelle Ansatz zur Übertragung von Scan-Testdaten von Chip-Pins zu Kern-Scankanälen gerät durch den massiven Anstieg von Konstruktionsgröße, -komplexität und Testanforderungen zunehmend unter Druck. Beim herkömmlichen Ansatz zur Übertragung von Scan-Testdaten an Kerne benötigt jeder Kern eine dedizierte Verbindung zu Chip-Level-Pins. Dies bietet wenig Flexibilität, da die Abhängigkeiten zwischen Kernen und Chip-Level-Pins einmalig während der Konstruktion festgelegt werden. In einem Bottom-up-Ansatz ordnen DFT-Konstrukteure typischerweise jedem Kern eine festgelegte Anzahl von Scankanälen zu, üblicherweise für alle Kerne gleich viele. Dies ist der einfachste Ansatz, kann jedoch Bandbreite verschwenden, da die für Tests gruppierten Kerne oft unterschiedliche Scankettenlängen und Musterzahlen aufweisen. Weitere Probleme dieses Ansatzes sind begrenzte IOs für Scantests, eingeschränkte Kernkanäle und mögliche Routing-Engpässe.

Ein Pin-Multiplex-Scan-Verfahren lässt keine Anpassung an zeitliche Änderungen der Testdaten zu. Beispielsweise können bei steigender Rendite bestimmte Musterarten für manche Kerne überflüssig werden. Alternativ kann eine andere Aufteilung für Wafer-, Package- und Systemtests nötig sein.

Das Potenzial paketierter Scan-Test-Übertragung

Eine paketierte Scan-Test-Übertragung wie das Tessent Streaming Scan Network bietet einen effizienteren und flexibler anpassbaren Ansatz. Die Idee besteht darin, Scan-Testdaten über ein einheitliches Netzwerk zu übertragen, das mit allen Kernen oder Blöcken einer Konstruktion verbunden ist. Die in den und aus dem Chip verschobenen Daten ähneln nicht herkömmlichen Scan-Testdaten, sondern sind in Paketen organisiert, die das Netzwerk an jedem Kern in übliche Scan-Daten umwandeln kann. Der SSN-Ansatz trennt Testanforderungen auf Kernebene von Testressourcen auf Chipebene, indem ein schneller synchroner Bus paketierte Scantestdaten an die Kerne überträgt.