White Paper
Noch mehr Zuverlässigkeit von Halbleiterprodukten durch Simcenter-Lösungen
Erkunden Sie erweiterte Tests und Diagnosen für Leistungselektronik
Angesichts des steigenden Energiebedarfs wird die Zuverlässigkeit der Leistungselektronik zu einem entscheidenden Faktor. Simcenter-Lösungen von Siemens, wie z. B. der Micred Power Tester, bieten modernste Tools für beschleunigte Tests und Fehlerdiagnosen.
Strukturfunktionsanalysen in Echtzeit ermöglichen die frühzeitige Erkennung von Problemen und erhöhen die Zuverlässigkeit der Produkte.
Laden Sie das White Paper herunter und erfahren Sie, wie wir Ihre Testeffizienz und die Zuverlässigkeit Ihrer Halbleiterprodukte steigern können.